آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین
واتساپ:09141077352 همراه: 09141077352 ثابت: 35250068-041 سفارش سمینار و مقاله سفارش ترجمه تخصصی
 

دانلود فایل با شمار فاکتور

لطفا شماره فاکتور خود را درج نمایید


جدیدترین لغات واژه‌نامه

آمار بازدیدکنندگان

بازدید امروز :11
بازدید روز گذشته :144
بازدید این هفته :252
بازدید این ماه :1389
مجموع آمار بازدید ها :785363

عنوان محصول: آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین

دسته‌بندی: مقالات ترجمه شده رشته اقتصاد
تاریخ انتشار: سه شنبه 21 مرداد 1399
آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین
توضیحات مختصر: آزمون مبتنی بر اسکن، معمولاً برای افزایش قابلیت آزمون پذیری و پوشش خطا استفاده می‌شود، با این حال، این روند به صورت یک ساختار مسئول امنیت تراشه نیز شناخته شده است. تحقیقات نشان می‌دهند که مالکیت معنوی (IP) و یا کلیدهای امنیتی می‌توانند از طریق حملات مبتنی بر اسکن از بین بروند، این حملات می‌تواند توس...
آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین آزمون و اسکن ایمن با استفاده از مبهم سازی در سراسر زنجیره تأمین


قیمت قیمت : 50000 تومان
تخفیف تخفیف: 5000 تومان
تخفیف تخفیف ویژه : 10 درصد
قیمت نهایی قیمت نهایی: 40000 تومان
314 بازدید
کد مقاله: TTC- 3854
نوع فایل : docx
لینک دانلود فایل خریداری شده بلافاصله بعد از خرید موفق فعال خواهد شد.
Journal: IEEE 2018,

Secure Scan and Test Using Obfuscation Throughout Supply Chain
Abstract
Scan-based test is commonly used to increase testability and fault coverage, however, it is also known to be a liability for chip security. Research has shown that intellectual property (IP) or secret keys can be leaked through scan-based attacks, which can be performed by entities within the supply chain. In this paper, we propose a design and test methodology against scan-based attacks throughout the supply chain, which includes a dynamically obfuscated scan (DOS) for protecting IP/integrated circuits (ICs). By perturbing test patterns/responses and protecting the Obfuscation Key, the proposed architecture is proven to be robust against existing noninvasive scan-based attacks, and can protect all scan data from attackers in foundry, assembly, and system development without compromising the testability. Further, a novel test methodology cooperating with the DOS design is also proposed, which shows full pattern application flexibility. Finally, detailed security and experimental analyses have been performed on ITC and industrial benchmarks. Demonstrated by the simulation results, the proposed architecture can be easily plugged into EDA generated scan chains without generating a noticeable impact on conventional IC design, manufacturing, and test flow. The results demonstrate that the proposed methodology can protect chips from existing brute force, differential, and other scan-based attacks that target the Obfuscation Key. Furthermore, the proposed design is of low overhead on area, power consumption, and pattern generation time, and there is no impact on test time.
Keywords: Obfuscation, scan-based attacks, secure scan, supply chain, testability.

چکیده
آزمون مبتنی بر اسکن، معمولاً برای افزایش قابلیت آزمون پذیری و پوشش خطا استفاده می‌شود، با این حال، این روند به صورت یک ساختار مسئول امنیت تراشه نیز شناخته شده است. تحقیقات نشان می‌دهند که مالکیت معنوی (IP) و یا کلیدهای امنیتی می‌توانند از طریق حملات مبتنی بر اسکن از بین بروند، این حملات می‌تواند توسط موجودیت‌های درون زنجیره تأمین انجام شود. در این مقاله، ما یک طرح و روش آزمون در برابر حملات مبتنی بر اسکن از طریق زنجیره‌های تأمین ارائه می‌کنیم که شامل اسکن مبهم ساز پویا (DOS) برای حفاظت از مدارهای مجتمع IP (ICs) است. با استفاده از پاسخ‌ها و یا الگوهای آزمون، و حفاظت از کلیدهای مبهم ساز، معماری پیشنهادی اثبات کننده قدرت بالا در برابر حملات مبتنی بر اسکن غیر تهاجمی موجود است و می‌تواند از تمامی داده‌های اسکن شده در مراحل طراحی، مونتاژ و توسعه سیستم، بدون آسیب رساندن به آزمون پذیری حفاظت کند. علاوه بر این یک روش جدید با مشارکت طرح DOS نیز پیشنهاد شد که نشان دهنده انعطاف پذیری در کاربردهای طرح کامل ارائه شده است. در نهایت، مسائل جزئی امنیتی و تحلیل‌های آزمایشگاهی در ITC و محک‌های صنعتی مورد آزمایش قرار گرفت. نتایج شبیه سازی نشان می‌دهد که معماری پیشنهادی می‌تواند به راحتی در زنجیرهای اسکن تولید شده توسط EDA بدون تولید تأثیر قابل توجهی روی طرح IC متعارف، تولید و جریان تست قرار گیرد. نتایج نشان می‌دهد که روش پیشنهادی می‌تواند از تراشه‌ها در برابر نیروی بی قاعده موجود، نیروهای دیفرانسیلی و سایر حملات مبتنی بر اسکن که هدف مبهم سازی کلید را هدف قرار می‌دهند، حفاظت کند.
کلمات کلیدی: مبهم سازی، حملات مبتنی بر اسکن، اسکن ایمن، زنجیره تأمین، آزمون پذیری

تعداد صفحات انگلیسی تعداد صفحات انگلیسی:14 صفحه
تعداد صفحات فارسی تعداد صفحات فـارسـی:32 صفحه

  • آدرس: تبریز، آبرسان، مهرگان چهارم
  • تلفن  تماس: 09016347107
  • تلفن  ثابت : 35250068-041
  •  Mailttcenterاین آدرس ایمیل توسط spambots حفاظت می شود. برای دیدن شما نیاز به جاوا اسکریپت دارید : آدرس  ایمیل
  • @zoodyab :آدرس تلگرام
مرکز  تخصصی  تلاش ترجمه از  سال  1385 شروع به کار نموده است  و تا کنون بیش از ده هزار ترجمه در رشته ها و زمینه های مختلف توسط متخصصین این مرکز انجام  شده  است.

تمامی ترجمه‌های انجام شده توسط موسسه تخصصی تلاش ترجمه، به صورت دستی (غیرماشینی) بوده و توسط مترجمین با سابقه انجام می‌شوند. ترجمه‌های انجام شده توسط موسسه تلاش ترجمه در قالب فایل Word و به صورت کاملا روان و بازخوانی شده و با ضمانت بازگشت وجه 72 ساعته (در صورت عدم رضایت از ترجمه) خدمت مشتریان محترم ارائه می‌شود.